FISCHER菲希尔XRF/XULM/XUL转化涂层/贵金属干膜测厚仪 俎156*5513*4803
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XRF – 能量色散 X 射线荧光分析
快。简单。非破坏性。
X 射线束使样品中的原子电离,检测器检测产生的荧光辐射,我们内部开发的软件处理信号。此过程在哪里使用?
独特且用途广泛:XRF 分析涵盖从钠到铀的所有技术相关化学元素。
测量涂层/干膜的厚度
定量材料分析:测定样品中某种物质的含量
例如,珠宝中的黄金含量