为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以来,全球已有 1000 台仪器用于这些应用,以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年,HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪,在很短的时间内变得非常流行,2013 年,MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器,As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。
1. 快速
硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度
2. 小巧
便携、体积小、重量轻
内部电池供电
3. 简单
减少日常维护工作(无需液氮)
无需真空泵
各种材料测量直观简单
4. 智能
英文/日文/中文多语言操作界面
Excel数据管理工具
5. 安全